CW32L010系列产品是基于（yú） eFlash 的（de）单芯片低功（gōng）耗微（wēi）控（kòng）制器，集（jí）成了主频高（gāo）达 48MHz 的 ARM® Cortex®-M0+ 内核、高速嵌（qiàn）入（rù）式（shì）存（cún）储器（多至 64K 字节 FLASH 和多至 4K 字节 SRAM）以及一（yī）系列全面的增强型外设和 I/O 口。

内（nèi）部框（kuàng）图

所有型（xíng）号都提供全（quán）套的通信（xìn）接口（二路（lù） UART、一路 SPI 和一路 I2C）、12 位高速 ADC、四组通用（yòng）和基本定时（shí）器（qì）、一组（zǔ）低功耗定时器以及一组高级控制 PWM 定时（shí）器。

CW32L010 可以在（zài） -40℃到 85℃的温度范围内（nèi）工（gōng）作，供电电压宽达 1.62V ~ 5.5V。支（zhī）持（chí） Sleep 和 DeepSleep两种（zhǒng）低功耗工作模式CW32L010 可以在 -40℃到 85℃的温度（dù）范围内工作，供电电压宽达（dá） 1.62V ~ 5.5V。支持 Sleep 和DeepSleep两种低功（gōng）耗工作模（mó）式。

确保高访问速度：可确保（bǎo）指令（lìng）的快速执（zhí）行，满（mǎn）足实时性（xìng）要求高（gāo）的应（yīng）用场景。

易于升级迭代：在同等成本下，扩（kuò）大存储容量，为（wéi）用户提供同级最（zuì）宽裕的程序和非易失存储空间，使得产品在面临功（gōng）能（néng）升级或迭代时，能（néng）够（gòu）更加灵活地（dì）进行软件更新和扩展。

减少EEPROM依赖：通过（guò）提（tí）供（gòng）充（chōng）足的非易失性存储，减少（shǎo）了对外部EEPROM的依赖，降低了（le）系统成本（běn）和复杂性（xìng）。

耐用性更高：Flash擦写寿命高达10,000次，符合标杆要求，确保了产品的长（zhǎng）期稳定（dìng）运行。

2、黑客级代码（mǎ）安全（quán）防护

在微控制器（MCU）领域，保护用户的（de）代码和（hé）知识产权至关（guān）重（chóng）要。CW32L010系列MCU，以其创（chuàng）新的安全特性，为用（yòng）户提供了一个坚（jiān）不可摧的代码（mǎ）保护解决方案。

尽管目前大多数MCU都支持多种安全等（děng）级，阻止通（tōng）过（guò）SWD/ISP接口读（dú）取Flash内容（róng）。但通过（guò）下载间谍程序，用挟（jiā）持内核的方式对（duì）Flash指令区做（zuò）数据访问一般都被允（yǔn）许。

CW32L010系（xì）列产品可以阻止这个入侵，我们允（yǔn）许（xǔ）用户划定（dìng）一块指令存储（chǔ）区域（yù），只能通过指令总线取指（zhǐ）令执行，不允许通（tōng）过数（shù）据（jù）总线（xiàn）访（fǎng）问数据。在这个区域内，即使攻击者尝（cháng）试通（tōng）过（guò）下载间谍程序（xù）挟（jiā）持内核，也（yě）无法访问这块（kuài）被保护的（de）存储区域。用户可以将包（bāo）含敏（mǐn）感（gǎn）算法和关键功能的（de）代码（mǎ）库（kù）存储在（zài）该区（qū）域，确保这些核心资产只能被调（diào）用，无法被复制或篡（cuàn）改。

超低功（gōng）耗工作模式（shì）非常多（duō），一般用户较（jiào）关注待机电流（常（cháng）温/高温）、全速运行电（diàn）流等几个主要指标。

CW32L010采用特（tè）别工艺制程，将待机电流控制在（zài）0.3uA，高温待机（jī）电流是（shì）竞品平均水平的1/4~1/8。

5、RTC补偿精度是0.060ppm，支持亚秒级读数

CW32L010在设计时对RTC补偿（cháng）机制进行（háng）了（le）优化，可选（xuǎn）择32，128，256秒为一个补（bǔ）偿周期，最精细的（de）补偿精度可达到0.060ppm，支（zhī）持亚（yà）秒级读数。

6、全面（miàn）升级的低功耗串口，支（zhī）持LIN、RS485硬件使（shǐ）能

低功（gōng）耗串口（kǒu）接收数据可（kě）灵活配置接口电平，可产生关键字中断（duàn）和帧超时（shí）中断，支持（chí）LIN、RS485硬件使能、TXD和RXD互换及内部（bù）回环功能、LSB/MSB硬（yìng）件转（zhuǎn）换（huàn）。

7、85℃ Latch Up测试成绩（jì）优异，闩锁门限测试成绩高达（dá）±600mA

在MCU的设计（jì）和应（yīng）用（yòng）中，静电放电（ESD）的防护能力是衡（héng）量产品可靠性的重（chóng）要指标（biāo）之一。其中（zhōng）高温（wēn）Latch Up（闩锁）测试可以说明一定问题，CW32L010在高（gāo）温Latch Up（闩（shuān）锁（suǒ））测试中表现出色，闩锁（suǒ）门（mén）限测试成绩高（gāo）达±600mA，远高于（yú）行业一般水平（píng），相比竞（jìng）品一般水平为3~6倍（bèi）。强大的ESD防（fáng）护能够保（bǎo）护（hù）MCU内部数据不受（shòu）静电放电的影响以及在各种环（huán）境下的（de）长期稳（wěn）定运行。

8、16路ADC输入2M采样（yàng）率，采样（yàng）保（bǎo）持时间（jiān）可独立配置

9、内（nèi）部时钟（zhōng）源特性无惧挑剔

CW32L010系（xì）列产品提供 QFN20、TSSOP20、SOP16 三种不同的封装形（xíng）式，不同封装的（de）产品所能实现的功能有所不（bú）同（tóng），具体情况如（rú）下（xià）表（biǎo）所示：

 CW32L010 家族产品（pǐn）功能列表